4644电源惩办芯片测试是判别芯片性能利害的焦灼方式【SAMA-664】S級素人5周年記念！S級BODY中出しBEST30 8時間，那么怎么检测4644芯片性能呢？电源芯片测试系统又怎么匡助测试呢？

4644电源芯片测试环境条目

测试环境是影响电源芯片测试精确度的因素之一，在测试过程中要尽量将环境搅扰降到最低。频繁情况下，电源芯片测试需要在以下环境下进行：

温度：25±2℃

湿度：60%~70%

大气压强：86kPa~106kPa

电源芯片测试配置

测试电源惩办芯片用到的仪器主要有：

直流电源

电子负载

数字万用表

示波器

跟着对电源芯片的性能和质料要求越来越高，自动化测试系统已成为电源惩办芯片测试的焦灼构成部分。在电源芯片自动化测试过程中，除了上述测试配置外，还需要一套自动测试系统，与测试仪器集成在一个测试柜中，完成电源芯片相貌的自动化测试。

纳米软件在ATECLOUD测试平台基础上设备了NSAT-2000电源惩办芯片测试系统，用于测试4644系列电源惩办芯片以过火它电源芯片。该系统可兼容4644系列产物的测试，只需一套系统即可测试，省俭了出奇设备系统的老本。

为了提高测试工犯警果，加速电源芯片测试速率，电源芯片测试系统的自动化测试柜相沿兼容测试工装，频繁由测试公板和子板构成，只需替换测试子板来检测不同规格、型号的电源芯片。

4644微模块测试相貌

好意思满全面检测电源芯片的性能，一般需要测试以下相貌：

1. 输入电压边界：在测试时篡改产物的输入电压，自拍街拍测量产物在设定输入边界内是否畴昔输出。

2. 输出电压边界：在测试时通过篡改产物输出端的分压电阻，测量产物是否畴昔输出。

3. 输出纹波：测量直流电压的疏浚身分和噪声，通过测量其波形的峰峰值，判断产物输出的踏实进度。其峰峰值越小，产物越踏实。

4. 电压舛错率：检测输入电压变化对输出电压的影响，电压舛错率越小诠释影响越小，电源芯片性能就越踏实。

5. 负载舛错率：用来检测负载变化对输出电压的影响，频繁性能踏实的电源芯片负载舛错率较小。

6. 反应端电压：是测量每路对应的FB引脚电压。

7. 欠压关断：在输入电压过低的时分，输出就会住手职责即输出为0，欠压关断等于测量输出端住手职责时的输入电压，称之为关断点。

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8. 欠压复原滞后：输入电压从关断点升高至输出复原畴昔，此时复原点和关断点存在压差即为欠压复原滞后。

除此以外，还需要测试输入偏置电流、输出电流、输出电流收敛、运转过冲、运转延时、负载跃变电压、恶果测试、恶果弧线等等。

NSAT-2000电源芯片测试系统相沿4644性能的全面检测，并以Pass、Fail缱绻自动判别收尾。自动化测试软件助力了电源芯片恶果的提高，同期也确保了测试经过的一致性【SAMA-664】S級素人5周年記念！S級BODY中出しBEST30 8時間，从而助力4644质料和性能的提高。电源惩办芯片测试系统决议的笃定可赶赴纳米软件官网检察！